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JTAGバウンダリスキャンテストがよく分からないといった方でも、ご理解頂ける内容です。
JTAG 技術レポートの第1号から4号まで公開しておりますので、ぜひご活用下さい。

技術レポートの概要

第1号 インサーキットテスタを超えるJTAGテスト

  • 各分野で使われているJTAGバウンダリスキャンテスト
  • 何故JTAGテストが必要なのか?
  • 問題解決が問題に!?(BGA実装の難しさ)
  • JTAGテストにはこんな多くのメリットが!
  • 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSIとJTAGテスト
  • インサーキットテスタを越えるJTAGテストの基礎

第2号 高密度基板のJTAGテスト容易化設計DFT

  • JTAGテストを実施するときのワンポイント・アドバイス
  • JTAGシステムレベル・テストの勧め 
     ~テスト範囲向上のための工夫~
  • バウンダリスキャン・テストとDFT
     ~テスト範囲向上のための設計 其の壱 / 其の弐 / 其の参~

第3号 JTAGテストシステムのすべて

  • JTAGテストが再び注目を集める理由
  • わかるJTAGテスト 5つのポイント
  • JTAGテストで検査できる基板
  • 製品概要
  • ソフトウェア製品ラインナップ / ハードウェア製品群
  • 製品セレクターガイド

第4号 コスト削減と品質向上に役立つ10のヒント

  • 導入効果を見極める7つのチェックリスト
  • インサーキットテスト検査との補完
  • ファンクションテストとの補完
  • X線検査との補完
  • 自動外観検査(AOI)との補完
  • JTAGテストによる開発期間の短縮
  • JTAGテストによるコスト削減