JTAGテスト基礎コース（全 4 回）
01
JTAGテスト成功事例セミナー
（所用時間：45分）
限定公開
JTAGテストを導入している国内企業が、どのようにBGA実装不良の市場流出を防ぎ、製造不良率を抑えているか、 「JTAGテストの成功事例」と「成功のカギ」をご紹介します！
02
バウンダリスキャンの詳細
（所用時間：55分）
JTAG /バウンダリスキャンを活用した実装テスト用アプリケーションの自動生成ツール「ATPG」の方法と、さまざまなテスト生成と結果の分析方法をご説明します。
03
テストカバレッジの評価
（所用時間：45分）
JTAG
ProVisionの障害カバレッジ分析ツールを使用して、テストの有効性を評価する方法をご説明します。テストパッドの削減とテスト戦略の改善が期待できます。
04
テスト容易化設計セミナー
（所用時間：45分）
限定公開
BGA実装基板のテスト方法として、 製造現場ではJTAGテストが使われていますが、 設計者にとっては、試作基板の設計、デバッグ、
解析の場面でも大きなメリットがあります。今回のセミナーでは、JTAGテスト容易化設計の 基礎から導入企業の事例、設計ノウハウまで ご紹介いたします。