JTAGテスト入門コース(全 3 回)

01

バウンダリスキャンの基礎

(所用時間:45分)

高密度実装基板の実装検査で注目を集めているJTAG /バウンダリスキャン(別名IEEE Std 1149.1)を活用した実装テストの基礎技術をご説明します。

◆セミナー概要

  • バウンダリスキャンの進化
  • バウンダリスキャンの技術
  • デバイスレベルのテスト
  • 実装基板のテスト
  • サンプルツール 「JTAG Live」

02

JTAGテスト入門セミナー

(所用時間:45分)

限定公開

組込み製品の基板の複雑化、高度化により、BGA実装不良のトラブルが急増しています。BGA基板の検査技術として改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを、はじめての方にも分かり易く解説します!

◆セミナー概要

  • BGA部品の実装不良を見つける「JTAGテスト」とは
  • JTAGテストアーキテクチャの解説
  • JTAGテストのデモンストレーション

03

JTAGテストツールのすべて

(所用時間:45分)

限定公開

世界スタンダードのバウンダリスキャン(JTAGテスト)は、BGA基板の有効なテスト手法として世界中で使われています。
本セミナーでは、JTAGテスト統合環境「JTAG ProVision」の基本機能からオプション機能まですべての機能をご紹介します。

◆セミナー概要

  • JTAGテストのソフトウェア製品と機能
  • JTAGテストのハードウェア
  • JTAGテストの保守と技術サポート

お役立ち情報

JTAG技術動画

JTAGカタログ

JTAG技術レポート