JTAGテスト入門コース（全 ３ 回）

01

バウンダリスキャンの基礎

（所用時間：45分）

高密度実装基板の実装検査で注目を集めているJTAG /バウンダリスキャン（別名IEEE Std 1149.1）を活用した実装テストの基礎技術をご説明します。

◆セミナー概要

  • バウンダリスキャンの進化
  • バウンダリスキャンの技術
  • デバイスレベルのテスト
  • 実装基板のテスト
  • サンプルツール 「JTAG Live」

02

JTAGテスト入門セミナー

（所用時間：45分）

組込み製品の基板の複雑化、高度化により、BGA実装不良のトラブルが急増しています。BGA基板の検査技術として改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを、はじめての方にも分かり易く解説します！

◆セミナー概要

  • BGA部品の実装不良を見つける「JTAGテスト」とは
  • JTAGテストアーキテクチャの解説
  • JTAGテストのデモンストレーション