技術的な質問について

回路的には、JTAGチェーンに繋ぐデイバスの数が多くなる場合には、ファンアウトの考慮とチェーンサイクル速度(JTAGテスト速度)を考量して、チェーンに繋ぐデバイスの数を検討する必要がございます。
また、ソフトウェア的には、JTAG ProVisionが処理できるチェーンに繋がるデバイスの数には制限はございません。

詳細につきましては、「JTAG 技術レポート」を御参照ください。また、JTAG ProVisionは、ネットリストとBSDLファイルとモデルファイルの情報を基に、自動的にデバイスが接続されているチェーン認識しますので、手作業によるミスを防ぐことができます。

JTAG Technologiesソフトウェアが処理できるチェーンの数に制限はなく、複数のチェーンを使用することにした場合でも、テストカバレッジが失われることはありません。また、多くの場合は複数のチェーンに分割することにより、設計の柔軟性が高まり、バウンダリスキャン操作のパフォーマンスが向上する可能性があります。したがって、ボードで複数チェーンの配置を検討することを強くお勧めします。詳細については、「JTAG技術レポート」をご参照ください。

デバイスメーカーが提供している「BSDLファイル」をご確認ください。準拠している場合は、メモにその旨が記載されるべきです。また、BSDLで記述されるCOMPLIANCE_PATTERNSを確認してください。場合によっては、バウンダリスキャンを実行するために、定義された電圧レベルで指定されたピンを保持する必要があります。 COMPLIANCE_PATTERNSの詳細につきましては、「設計上の注意点について」および「JTAG技術レポート」をご参照ください。 また、不明な点が御座いましたら、アンドールシステムサポートにお問い合わせください。

基板上に実装されているバウンダリスキャン機能を内蔵しているデバイスの数が一つでも実装されていれば、多くの場合、効果的なテストが可能です。多くのバウンダリスキャン機能を内蔵したデバイスは、多数のI/Oを備えた複雑なデバイス（FPGA、PLD、マイクロプロセッサ、ASICなど）である傾向があるため、様々なデバイスに対し配線(ネット)されているため、接続先のデバイスがJTAGバウンダリスキャンの機能を内蔵していない場合であっても、クラスタテストの手法によりテストを実現できるようになります。
また、DIOSモジュールを使用することで、テストカバレッジを更に拡大できます。クラスタテストの手法は、単純なロジックデバイスやメモリに対し、入力側と、出力側を別のJTAGバウンダリスキャン機能を内蔵したデバイスから全て制御でき、デバイスからの出力される値を確認する事ができれば、テストを実現できます。これは、極端な例ですが、DIOSを利用する場合には、基板側に、一切のJTAGバウンダリスキャン機能を内蔵しているデバイスが実装されていない場合であっても、効果的なテストを実現できる場合もあります。 また、JTAG ProVisionの故障検出カバレッジの機能を利用する事で、理想的なテスト範囲と実際のカバレッジを事前に確認する事もできます。この機能はオプションのJTAG Visualizerと連動することにより、効果範囲を回路図や、レイアウト図に色付けする事も可能になります。

追加が必要な回路はごくわずかです。むしろ、JTAGバウンダリスキャン・テストは、ボードに必要なテストポイントの数を大幅に削減するために役立ちます。そのため、基板上のスペースの節約できるため、よりシンプルなレイアウトを実現できる可能性があります。TAPのターミネーション回路とTAPヘッダー用に少数の受動デバイスを追加するために必要なスペースは、多くの場合、テストポイントの削減によって相殺されます。詳細につきましては、「設計上の注意点について」および「JTAG技術レポート」をご参照ください。